Tài liệu Download
Surface analysis with STM and AFM : experimental and theoretical aspects of image analysis
Magonov, Sergei N · Weinheim New York : VCH, 1996
- Nhà xuất bản
- Weinheim New York : VCH, 1996
- Mô tả vật lý
- 323 trang
- ISBN
- 3527293132 (acid-free and chlorine-free paper)
- Phân loại Dewey
- 621
Bản điện tử
Toàn vănPDF · đọc ngay trên trình duyệt
Cần đăng nhậpĐọc
Thông tin biên mục
| Thông tin | Chi tiết |
|---|---|
| 001Số kiểm soát | 24541 |
| 003Mã cơ quan gán số kiểm soát | OCoLC |
| 005Ngày và thời gian giao dịch lần cuối với biểu ghi | 06/06/2016 · 10:46 |
| 008Các yếu tố dữ liệu có độ dài cố định | 960326s1996 gw a b 001 0 eng d |
| 020Số sách chuẩn quốc tế ISBN | 3527293132 (acid-free and chlorine-free paper) |
| 035Số kiểm soát hệ thống | CUA000140700 |
| 040Cơ quan tạo biểu ghi biên mục gốc | CWR CWR PBR AGL IQU |
| 082Ký hiệu xếp giá theo phân loại thập phân dewey | 621 M101-O |
| 090Vị trí tài liệu trên giá | QH212.S35 M3 1996 |
| 100Tiêu đề chính - Tên cá nhân | Magonov, Sergei N. |
| 245Nhan đề chính | Surface analysis with STM and AFM : experimental and theoretical aspects of image analysis / Sergei N. Magonov, Myung-Hwan Whangbo. |
| 246Dạng khác của nhan đề |
|
| 260Địa chỉ xuất bản, phát hành... (in ấn) | Weinheim ; New York : VCH, 1996 |
| 300Mô tả vật lý | xii, 323 p. : ill. ; 25 cm. |
| 504Phụ chú thư mục v.v... | Includes bibliographical references and index. |
| 650Tiêu đề bổ sung chủ đề - thuật ngữ chủ đề |
|
| 700Tiêu đề bổ sung - Tên cá nhân | Whangbo, Myung-Hwan. |
| 999Bộ sưu tập | Tài liệu Download |
=001 24541=003 OCoLC=005 20160606104624.0=008 960326s1996 gw a b 001 0 eng d=020 \\$a3527293132 (acid-free and chlorine-free paper)=035 \\$aCUA000140700=040 \\$aCWR $cCWR $dPBR $dAGL $dIQU=049 \\$aCVUA=082 ##$a621 $bM101-O=090 \\$aQH212.S35 $bM3 1996=100 1\$aMagonov, Sergei N.=245 10$aSurface analysis with STM and AFM : $bexperimental and theoretical aspects of image analysis / $cSergei N. Magonov, Myung-Hwan Whangbo.=246 30$aExperimental and theoretic aspects of image analysis.=246 30$aImage analysis.=260 \\$aWeinheim ; $aNew York : $bVCH, $c1996=300 \\$axii, 323 p. : $bill. ; $c25 cm.=504 \\$aIncludes bibliographical references and index.=650 \0$aAtomic force microscopy.=650 \0$aElectric insulators and insulation $xTesting.=650 \0$aMetals $xSurfaces $xAnalysis.=650 \0$aScanning tunneling microscopy.=650 \0$aSemiconductors $xTesting.=650 \0$aSurfaces (Technology) $xAnalysis.=700 1\$aWhangbo, Myung-Hwan.=910 \\$a980805/w/n;hc,hc=LDR 01284cam a2200361 a 4500