Tài liệu Download
Digital logic testing and simulation
Miczo, Alexander · Hoboken, N.J : Wiley-Interscience, 2003
- Nhà xuất bản
- Hoboken, N.J : Wiley-Interscience, 2003
- Mô tả vật lý
- 673 trang
- ISBN
- 0471439959;0471457787 (electronic bk.);9780471439950;9780471457787 (electronic bk.)
- Phân loại Dewey
- 621.381548
- Ngôn ngữ
- Tiếng Anh
Bản điện tử
Toàn vănPDF · đọc ngay trên trình duyệt
Cần đăng nhậpĐọc
Thông tin biên mục
| Thông tin | Chi tiết |
|---|---|
| 001Số kiểm soát | 14787 |
| 005Ngày và thời gian giao dịch lần cuối với biểu ghi | 04/01/2011 · 15:36 |
| 006Yếu tố dữ liệu có độ dài cố định - đặc trưng tài liệu bổ sung | m d |
| 007Trường mô tả vật lý có độ dài cố định | cr cnu|||||||| |
| 008Các yếu tố dữ liệu có độ dài cố định | 030107s2003 njua sb 001 0 eng d |
| 020Số sách chuẩn quốc tế ISBN |
|
| 035Số kiểm soát hệ thống | (OCoLC)85819930 |
| 040Cơ quan tạo biểu ghi biên mục gốc | DG1 DG1 HNK |
| 041Mã ngôn ngữ | eng |
| 082Ký hiệu xếp giá theo phân loại thập phân dewey | 621.381548 Dig-S |
| 090Vị trí tài liệu trên giá | TK7868.D5 M53 2003eb |
| 100Tiêu đề chính - Tên cá nhân | Miczo, Alexander. |
| 245Nhan đề chính | Digital logic testing and simulation [electronic resource] / Alexander Miczo. |
| 250Lần xuất bản | 2nd ed. |
| 260Địa chỉ xuất bản, phát hành... (in ấn) | Hoboken, N.J. : Wiley-Interscience, 2003 |
| 300Mô tả vật lý | xxii, 673 p. : ill. ; 25 cm. |
| 500Phụ chú chung | "A John Wiley & Sons, Inc., publication." |
| 504Phụ chú thư mục v.v... | Includes bibliographical references and index. |
| 506Phụ chú về hạn chế truy cập | Access restricted to subscribers. |
| 533Phụ chú phiên bản | Electronic reproduction. Somerset, N.J. : Wiley InterScience, c2003. System requirements: Adobe Acrobat Reader. Mode of access: World Wide Web. Made available through Wiley InterScience. |
| 650Tiêu đề bổ sung chủ đề - thuật ngữ chủ đề | Digital electronics--Testing. |
| 740Tiêu đề bổ sung - nhan đề liên quan, nhan đề phân tích không kiểm soát | Wiley Online Library. |
| 776Hình thức vật lý bổ sung | Original 0471439959 (DLC) 2003041100. |
| 999Bộ sưu tập | Tài liệu Download |
=001 14787=005 20110104153651.8=006 m d=007 cr cnu||||||||=008 030107s2003 njua sb 001 0 eng d=020 ##$a0471439959=020 ##$a0471457787 (electronic bk.)=020 ##$a9780471439950=020 ##$a9780471457787 (electronic bk.)=035 ##$a(OCoLC)85819930=040 ##$aDG1 $cDG1 $dHNK=041 0#$aeng=049 ##$aHNKA=082 ##$a621.381548 $bDig-S=090 ##$aTK7868.D5 $bM53 2003eb=100 1#$aMiczo, Alexander.=245 10$aDigital logic testing and simulation $h[electronic resource] / $cAlexander Miczo.=250 ##$a2nd ed.=260 ##$aHoboken, N.J. : $bWiley-Interscience, $c2003=300 ##$axxii, 673 p. : $bill. ; $c25 cm.=500 ##$a"A John Wiley & Sons, Inc., publication."=504 ##$aIncludes bibliographical references and index.=506 ##$aAccess restricted to subscribers.=533 ##$aElectronic reproduction. $bSomerset, N.J. : $cWiley InterScience, $dc2003. $nSystem requirements: Adobe Acrobat Reader. $nMode of access: World Wide Web. $nMade available through Wiley InterScience.=650 #0$aDigital electronics $xTesting.=740 0#$aWiley Online Library.=776 1#$cOriginal $z0471439959 $w(DLC) 2003041100.=910 ##$alfs=948 ##$a.b9958435=LDR 01450nam a2200409Ia 4500