Tài liệu Download
Soft errors in modern electronic systems
Nicolaidis, Michael · New York : Springer, 2011
- Nhà xuất bản
- New York : Springer, 2011
- Mô tả vật lý
- 316 trang
- ISBN
- 9781441969927 (cased)
- Phân loại Dewey
- 621.395
- Chủ đề
- Electronic apparatus and appliances--Effect of radiation onIntegrated circuits--Very large scale integrationSoftware failures
- Ngôn ngữ
- Tiếng Anh
Bản điện tử
Toàn vănPDF · đọc ngay trên trình duyệt
Cần đăng nhậpĐọc
Thông tin biên mục
| Thông tin | Chi tiết |
|---|---|
| 001Số kiểm soát | 25568 |
| 005Ngày và thời gian giao dịch lần cuối với biểu ghi | 25/12/2013 · 11:15 |
| 008Các yếu tố dữ liệu có độ dài cố định | 100630s2011 nyua b 001 0 eng |
| 010Số kiểm soát của thư viện quốc hội hoa kỳ | 2010933852 |
| 015Số thư mục quốc gia | GBB0C9780 bnb |
| 020Số sách chuẩn quốc tế ISBN | 9781441969927 (cased) |
| 035Số kiểm soát hệ thống |
|
| 040Cơ quan tạo biểu ghi biên mục gốc | DLC eng DLC Uk |
| 041Mã ngôn ngữ | eng |
| 042Mã xác thực | ukblsr |
| 082Ký hiệu xếp giá theo phân loại thập phân dewey | 621.395 22 |
| 245Nhan đề chính | Soft errors in modern electronic systems / Michael Nicolaidis, editor. |
| 260Địa chỉ xuất bản, phát hành... (in ấn) | New York : Springer, 2011 |
| 300Mô tả vật lý | xviii, 316 p. : ill. ; 25 cm. |
| 490Thông tin tùng thư | Frontiers in electronic testing, 0929-1296 ; v. 41 |
| 504Phụ chú thư mục v.v... | Includes bibliographical references and index. |
| 650Tiêu đề bổ sung chủ đề - thuật ngữ chủ đề |
|
| 700Tiêu đề bổ sung - Tên cá nhân | Nicolaidis, Michael. |
| 999Bộ sưu tập | Tài liệu Download |
=001 25568=005 20131225111500.8=008 100630s2011 nyua b 001 0 eng=010 \\$a2010933852=015 \\$aGBB0C9780 $2bnb=020 \\$a9781441969927 (cased)=035 \\$a(AuCNLKIN)000046550452=035 \\$a(OCoLC)646114165=035 \\$a(OCoLC)699778302=035 \\$a(OCoLC)ocn646114165=035 \\$a(YBP)3497447=040 \\$aDLC $beng $cDLC $dUk=041 ##$aeng=042 \\$aukblsr=082 04$a621.395 $222=245 00$aSoft errors in modern electronic systems / $cMichael Nicolaidis, editor.=260 \\$aNew York : $bSpringer, $c2011=300 \\$axviii, 316 p. : $bill. ; $c25 cm.=490 0\$aFrontiers in electronic testing, $x0929-1296 ; $vv. 41=504 \\$aIncludes bibliographical references and index.=650 \0$aElectronic apparatus and appliances $xEffect of radiation on.=650 \0$aIntegrated circuits $xVery large scale integration.=650 \0$aSoftware failures.=700 1\$aNicolaidis, Michael.=940 \\$aLA $bVIT:787656 $cheld $d04/01/2010 $fOK $oE75980=960 \\$o1 $s179.00 $tswngen $u507H:BK $zUSD=961 \\$cGobiExport $fWH $m854622 $nCloth=984 \\$a20101220 $b195419 $cYBP-US=987 \\$a3497447=LDR 01379cam a2200409 a 4500